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本公司参加了第29届Electrotest Japan。
我们深表感谢多数来宾的莅临。
本公司于2012年1月18日参加了为期三天的第29届Electrotest Japan。 展会期间，众多来宾莅临本公司展台，使我们得以机会向各位来宾介绍本公司产品，对此，我们表示衷心地感谢！
由于受到展会现场客观原因所限，我们非常抱歉无法对所有产品进行详细介绍说明。如有任何疑问或意见，欢迎您随时和本公司联系咨询。
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新产品 测试探针专用的环保清洁垫上市！
测试探针专用清洁垫（EQOmat）， 可有效清除附着在探针头部的污垢。
EQOmat由清除污垢层和研磨层组成，为双层功能结构。特别向苦恼于探针接触不良的
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新产品 “自动+目视”判断实装基板的检查装置上市！
自动检查时判定为不良的零件通过进一步目视检查，可完全杜绝不合格产品的流出。
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Inspection Pro IP-2400
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